В наличии
Инвертированный микроскоп 4XB предназначен для визуального контроля микроструктуры металлов, сплавов и других непрозрачных объектов в отражённом и поляризованном свете.
Микроскоп оснащён бинокулярной насадкой с углом наклона тубусов 45°, диапазоном увеличений 100…1250 крат и координатным предметным столиком.
Прибор применяется в лабораториях для контроля качества литья, анализа сырья, металлографической микроструктуры после термической обработки и поверхностных покрытий.
| Увеличение, крат | 10, 100, 100…1250, 12.5, 40 |
| Цена деления | 0.01 мм, 0.1 |
| Методы исследования | Инвертированный в отражённом свете в светлом поле |
| Угол наклона тубусов | 45° |
| Межзрачковое расстояние | 55…75 мм |
| Диоптрийная подстройка | ±5 диоптрий |
| Освещение | галогенная лампа 20 Вт, 6 В |
| Шаг точной фокусировки | 0.002 мм |
| Револьверное устройство | 4-х гнездовое |
| Диапазон регулировки горизонтально по оси Y | 75 мм |
| Диапазон перемещений вертикально/горизонтально | 15/15 мм |
| Рабочее расстояние между образцом и передней линзой объектива | 195 мм |
| Парфокальное расстояние | 45 мм |
| Числовая апертура | 0,25, 0,65, 1,25 |
| Фокальное расстояние | 17,13 мм, 4,328 мм, 2,906 мм |
| Рабочее расстояние | 7,136 мм, 0,714 мм, 0,198 мм |
| Диаметр поля зрения | Ф18 мм, Ф15 |
Изготовитель: ООО «Восток-7» (РФ).
Состояние: новое изделие.
Поверка невозможна, поскольку прибор не внесён в госреестр СИ РФ.
Инвертированный микроскоп 4XB предназначен для визуального наблюдения и контроля микроструктуры металлов, сплавов и других непрозрачных объектов в отражённом свете при прямом освещении в светлом поле, а также в поляризованном свете.
Прибор не имеет ограничений по высоте образца: необходимо лишь, чтобы поверхность образца совпадала с поверхностью стола микроскопа.
База микроскопа 4XB имеет большую площадь поддерживающего основания и плечо изгиба, что снижает центр тяжести оборудования и обеспечивает его стабильную установку. Угол наклона между окуляром и опорной поверхностью составляет 45°.
Устройство используется для анализа структуры металлов и сплавов, проверки качества литья и сырья, анализа металлографической микроструктуры материала после термической обработки, а также для контроля работ по поверхностному нанесению покрытий. Микроскоп может быть оснащён фотографическим устройством для получения изображений поверхности в режиме реального времени.
Состояние в реестрах средств измерений.
| Страна, ответственная организация | Номер в госреестре |
|---|---|
| Российская Федерация, Росстандарт | не подлежит внесению в реестр |
| Российская Федерация, АО «РЖД» | не подлежит внесению в реестр |
| Республика Беларусь, Госстандарт | не подлежит внесению в реестр |
| Республика Казахстан, КазИнМетр | не подлежит внесению в реестр |
| Иные регистры, удостоверения, заключения, разрешения и пр. | отсутствуют |
Комплектность поставки.
Дополнительная комплектация (на заказ).
По запросу
По запросу
Напишите нам, если нужна помощь с выбором оборудования или есть вопросы по поставкам
Введите номер телефона и мы перезвоним вам в течении 15 минут